X射线衍射仪XRD是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时，该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象，物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生*的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此，X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法，已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。X射线衍射仪XRD的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，为衍射...

台式扫描电子显微镜具有由三极电子枪发出的电子束经栅极静电聚焦后成为直径为50mm的电光源。在2-30KV的加速电压下，经过2-3个电磁透镜所组成的电子光学系统，电子束会聚成孔径角较小，束斑为5-10nm的电子束，并在试样表面聚焦。末级透镜上边装有扫描线圈，在它的作用下，电子束在试样表面扫描。高能电子束与样品物质相互作用产生二次电子，背反射电子，X射线等信号。这些信号分别被不同的接收器接收，经放大后用来调制荧光屏的亮度。由于经过扫描线圈上的电流与显像管相应偏转线圈上的电流同步，...

场发射电镜采用了肖特基场发射电子(SFE)源。其特点是：探针电流大，容易进行BSE、EDS、WDS、EBSD、CL等分析。电子束噪声较小，场发射电镜加速电压0.1-30kV，且在0.1kV的加速电压下仍有较高的分辨率。随着电子束能量的降低，像差也随着降低。从而在降至100V时，也有水平的分辨率，在30KV时具有高分辨率。高的电子束能量再加上电子束路径上不存在交叉，降低了电子束电子之间的静电库伦作用，避免了由此而引起的亮度降低以及显微镜的分辨率的限制。尤其是需要低电子束能量时，...

应用各种矿物学原理与方法，通过矿物的光、电、声、热、磁、重、硬度、气味等以及其主要的化学成分特征，对岩石、矿物样品、包括光(薄)片、砂片、碎屑、粉末进行观察、鉴定以区别其矿物类别，以及研究岩石、矿石的主要矿物组成、矿物成生序列，结构、构造、岩(矿)石类型的技术方法，称为岩矿分析(鉴定)。岩矿分析系统现今已经可以准确地确定矿物微区化学成分、内部结构、晶系，晶胞参数等，对矿物表面进行的精细扫描，已可精密测量矿物表面元素组成、价态、表面形貌，并绘出矿物的三维图像(地球科学辞典)。地...

SEM扫描电镜是利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描，与样品相互作用产生各种物理信号，这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号，在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数范围大、连续可调、分辨率高、样品室空间大且样品制备简单等特点，是进行样品表面研究的有效分析工具。通过本实验学习，了解扫描电镜基本机构，掌握扫描电镜的基本使用方法和使用过程中的注意事项。SEM扫描电镜图像衬度观察：1．样品制备扫描电镜的优点之一是样品制备简单，对于新鲜的...

台式扫描电镜体积小、重量轻、寿命长、功率损耗小、机械性能好，因而适用的范围广。然而半导体器件的性能和稳定性在很大程度上受它表面的微观状态的影响。一般在半导体器件试制和生产过程巾包括了切割、研磨、抛光以及各种化学试剂处理等一系列工作，会造成表面的结构发生惊人的变化，所以几乎每一个步骤都需要对扩散进行检测，深度进行测茧或者直接看到扩散区的实际分布情况，而生产大型集成电路就更是如此。目前，台式扫电镜在半导体中的应用已经深入到许多方面。台式扫描电镜利用柬感应电流（EBIC）像和吸收电...

超高压XRD分析手段有2种，分单晶X射线衍射法，多晶X射线衍射法。对应地，所用的XRD设备，也分为单晶衍射仪和多晶衍射仪。物相，简称为相，它是有某种晶体结构并能用化学式表征其化学成分（或有一定的成分范围）的固体物质。化学成分不同的是不同的物相，化学成分相同而内部结构不同的，也是不同的物相。例如，同样是铁，它能以晶体结构为体心立方结构的Fe、也能以面心立方结构的Fe、还能以体心立方结构的高温Fe，这3种物相形式存在。X射线的性质：1）物理作用，使某些物质发出荧光一可见光，用于荧...